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SIEMENS雷達(dá)料位計7ML54401GB000AA2現(xiàn)貨的詳細(xì)資料

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SIEMENS雷達(dá)料位計雷達(dá)料位計的工作原理以及特點

射頻導(dǎo)納物位計是一種從電容式物位控制技術(shù)發(fā)展起來的，防掛料、更可靠、更準(zhǔn)確、適用性更廣的物位控制技術(shù)，“射頻導(dǎo)納"中“導(dǎo)納"的含義為電學(xué)中阻抗的倒數(shù)，它由阻性成分、容性成分、感性成分綜合而成，而“射頻"即高頻，所以射頻導(dǎo)納技術(shù)可以理解為用高頻測量導(dǎo)納。高頻正弦振蕩器輸出一個穩(wěn)定的測量信號源，利用電橋原理，以精確測量安裝在待測容器中的傳感器上的導(dǎo)納，在直接作用模式下，儀表的輸出隨物位的升高而增加。

射頻導(dǎo)納技術(shù)與傳統(tǒng)電容技術(shù)的區(qū)別在于測量參量的多樣性、驅(qū)動三端屏蔽技術(shù)和增加的兩個重要的電路，這些是根據(jù)在實踐中的寶貴經(jīng)驗改進而成的。上述技術(shù)不但解決了連接電纜屏蔽和溫漂問題，也解決了垂直安裝的傳感器根部掛料問題。所增加的兩個電路是高精度振蕩器驅(qū)動器和交流鑒相采樣器。

對一個強導(dǎo)電性物料的容器，由于物料是導(dǎo)電的，接地點可以被認(rèn)為在探頭絕緣層的表面，對變送器探頭來說僅表現(xiàn)為一個純電容，隨著容器排料，探桿上產(chǎn)生掛料，而掛料是具有阻抗的。這樣以前的純電容現(xiàn)在變成了由電容和電阻組成的復(fù)阻抗。

SIEMENS雷達(dá)料位計射頻導(dǎo)納技術(shù)由于引入了除電容以外的測量參量，尤其是電阻參量，使得儀表測量信號信噪比上升，大幅度地提高了儀表的分辨力、準(zhǔn)確性和可靠性，測量參量的多樣性也有力地拓展了儀表的可靠應(yīng)用領(lǐng)域。

問題是物料本身對探頭相當(dāng)于一個電容，它不消耗變送器的能量，（純電容不耗能），但掛料對探頭等效電路中含有電阻，則掛料的阻抗會消耗能量，從而將振蕩器電壓拉下來，導(dǎo)致橋路輸出改變，產(chǎn)生測量誤差。我們在振蕩器與電橋之間增加了一個驅(qū)動器，使消耗的能量得到補充，因而會穩(wěn)定加在探頭的振蕩電壓。

第二個問題是對于導(dǎo)電物料，探頭絕緣層表面的接地點覆蓋了整個物料及掛料區(qū)，使有效測量電容擴展到掛料的頂端，這樣便產(chǎn)生掛料誤差，且導(dǎo)電性越強誤差越大。但任何物料都不*導(dǎo)電的。從電學(xué)角度來看，掛料層相當(dāng)于一個電阻，傳感元件被掛料覆蓋的部分相當(dāng)于一條由無數(shù)個無窮小的電容和電阻元件組成的傳輸線。

根據(jù)數(shù)學(xué)理論，如果掛料足夠長，則掛料的電容和電阻部的阻抗和容抗數(shù)值相等，因此用交流鑒相采樣器可以分別測量電容和電阻。測得的總電容相當(dāng)于c物位+C掛料，再減去與C掛料相等的電阻R，就可以獲得物位真實值，從而排除掛料的影響。即C測量=C物位+C掛料C物位=C測量-C掛料=C測量-R這些多參量的測量，是測量的基礎(chǔ)，交流鑒相采樣器是實現(xiàn)的手段。由于使用了上述三項技術(shù)，使得射頻導(dǎo)納技術(shù)在現(xiàn)場應(yīng)用中展現(xiàn)出非凡的生命力。是目前世界上料液位測量儀表。

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